美國麥奇克Microtrac納米Zeta電位分析儀Zetatrac
價 格：詢價
產 地：美國更新時間：2020-11-05 14:09
品 牌：Microtrac型 號：Zetatrac
狀 態：正常點擊量：1432
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創新點
1. ***新動態光背散射技術，引入能譜概念，180°檢測異相多普勒頻率變化，穩定性好，重現性高，實為傳統光子相關光譜方法的***佳替代品。
2. 專利膜電極設計，準確測量顆粒電泳速度
3. 先進的“Y型”光纖光路系統，精確聚焦藍寶石測量窗口，有效消除雜散光對檢測器的負面影響。無需比色皿，毛細管電泳池或外加電極池，測量同***體系的Zeta電位，避免樣品交叉污染與濃度變化。
4. 專利的異相多譜勒頻移（Heterodyne Doppler Frequency Shifts）技術，較之傳統的光子相關光譜分析方法，獲得顆粒散射光信號的強度高出幾個數量***，提高分析結果的可靠性
5. 專利的可控參比方法（CRM，Controlled Reference Method），能精細分析多譜勒頻移產生的能譜，確保分析的靈敏度
﹡ 專利的異相多譜勒頻移(Heterodyne Doppler Frequency Shifts)技術，比較傳統的多譜勒頻 移分析方法，獲得顆粒散射信號的強度高出幾個數量***，提高分析結果的可靠性
﹡ 專利的可控參比方法(CRM, Controlled Reference Method)，能精細分析多譜勒頻移產生的能 譜，確保分析的靈敏度
﹡ 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設計，避免了多重散射現象，保證高濃度溶液中納米顆粒測 試的準確性
﹡ 先進的“Y型”光纖光路系統，精確聚焦藍寶石測量窗口，有效消除雜散光對檢測器的負面影響
﹡ 專利的快速傅利葉變換算法(FFT，Fast Fourier Transform Algorithm Method)，迅速處理檢 測系統獲得的光譜，縮短分析時間
﹡ ******引進“非球形”顆粒概念對米氏理論計算的校正因素，內置常用分析物質光學數據庫，提高顆粒粒度分布測試的準確性
﹡ 符合甚至部分超過ISO 13321 激光粒度分析***際標準－納米分析部分
﹡ 符合甚至部分超過21 CFR PART 11 安全要求及FDA標準
產品參數
粒度范圍：0.8納米－ 6.5微米
Zeta 電位測量：+/- 125mv
電泳遷移：+/- 0.4 μs/volt/cm
重復性：誤差小于1%（標準顆粒）
測量原理：動態光背散射技術及米氏理論
專利技術：HDF，CRM，FFT，“Ｙ”型光纖光路設計，“非球形”顆粒校正選項，微電場設計技術
檢測角度：180o
濃度范圍：0.1ppm – 40wt%
分析時間：30-120 秒
光源：3mW 780nm 半導體光纖
樣品體積：0.2 - 5ml
操作軟件：兼容Windows 98, 2000, NT, XP, Vista等
國際標準：ISO 13321
環境溫度：10oC to 35oC
相對濕度：小于90%
滬公網安備31011502016460號
