梅特勒AB265-S電子天平|電子分析天平
1.采用高分辨率的稱量單元,滿足用戶高精度的稱量需求
2.稱量單元保護裝置(CellProtector),提高產品的抗沖擊、過載性能
3.堅固的金屬機架,避免稱量樣品的污染,延長天平的使用壽命
4.可讀性為0.1mg天平采用背亮式液晶顯示屏(Backlit LCD),方便用戶讀取稱量結果
5.內置砝碼校準,確保稱量結果的[accuracy]性
6.雙量程(DualRange)設計,滿足客戶對不同樣品的稱量需求
7.可以拆除的防風罩設計,實現天平的快速清潔
8.內置RS232通訊接口,方便連接打印機、電腦等外圍設備
9.標配機架塑料保護罩(Protective cover),避免散落樣品的腐蝕
10.具有簡單稱量、百分比稱量、計件稱量和動態稱量等內置應用程序
AB-L:外置砝碼校準(需選購);
AB-S:內置砝碼校準;
AB-IC:內置砝碼校準;
AB-S/FACT:采用溫度漂移及時間設置觸發的全自動校準技術(FACT)。
(1)精細量程內10 g樣品典型重復性:0.02mg
(2)精細量程內10 g樣品典型線性:0.03mg