Leica DM ILM倒置金相顯微鏡-
全部配件均在德***制造，光學品質卓越，結實耐用。
Leica DM ILM倒置顯微鏡為在金屬和工業材料檢驗的所有檢查和測量任務而特別設計的。高性能Leica HCS光學系統保證了圖像分辨率和反差的*優化,得到銳利圖像的同時追求分辨率。而且所有的檢查和測量任務可以執行的迅速和高效。
技術參數:
物鏡：1.25X/2,5X/5X/10X/20X/50X/100X
目鏡：10X,12.5X,16X,25X(視野18mm,20mm)
觀察方式：明場/偏光
手動式物鏡轉盤：四孔手動物鏡轉盤
載物臺:247X230mm尺寸,行程60x40,可配多種載物孔徑板
攝像方式:可通過C接口進行拍攝,并通過專業軟件進行分析測量等工作
長壽命高亮度LED照明光源
主要特點:
? 光學設計上采用的HC無限遠軸向、徑向雙重色差校正光學技術，徹底消除雜散光等干擾因素；
? 在整個光學系統內, 對涉及成像質量的所有組件(物鏡、鏡筒透鏡、目鏡筒、目鏡、照相接口等) 進行*優化組合，實現圖像分辨率和反差的*優化，得到銳利圖像的同時追求分辨率。
圖像分析軟件
配套的金相圖像分析軟件應能夠準確采集和處理金相圖像。
***、軟件基本功能
1. 圖像輸入功能：
支持專業數碼攝像頭、數碼相機及圖像掃描儀，支持多種圖像采集卡，支持BMP、JPEG等各種圖像文件格式。
2. 圖像處理與編輯功能
可對圖像進行陰影校正、色調處理、圖像增強、邊緣檢測與提取、圖像運算、圖像平滑與濾波、數學形態學變換和圖像分割等***系列圖像處理，并進行相應的圖像編輯，實現高質量的圖像輸出。
3．具有圖像幾何測量和顆粒度分析功能。
能對點、線、曲線、圓、矩形、角度、面積、周長、直徑、*小直徑等參數進行測量，可自定義公差檢測。具有長度、寬度、夾角、弘度、圓心距等測量功能。提供多圓截線法、直線截線法、面積法等多種晶粒度測量方法，及晶界剪刀、晶界修正畫筆等工具。同時提供手工定量金相測量、多物相組織比例測定、物相組織角度測定、物相組織取向測定、物相組織層片間距測定等功能。
4．具有自動分析和人工干預功能。
5．具有定義標尺及燒制標尺功能
在任何倍率下***次完成標尺標定，無需不同倍率下多次標尺標定。可選擇不同長度、透明標尺刻度附加在圖像上。
6．具有圖文報告及圖文報告自動存儲、輸出功能。
7. 具備夾雜物、晶粒度測量等全部功能。
滬公網安備31011502016460號
