現在位置：首頁>光學儀器>電子顯微鏡>
掃描電子顯微鏡（SEM）
Phenom 飛納地質領域掃描電子顯微鏡
價 格：詢價
產 地：更新時間：2021-01-18 15:03
品 牌：型 號：Phenom Pro_4
狀 態：正常點擊量：2870
400-006-7520
聯系我時，請說明是在上海非利加實業有限公司上看到的，謝謝！
聯 系 人：
上海非利加實業有限公司
電 話：
400-006-7520
傳 真：
400-006-7520
配送方式：
上海自提或三方快遞
聯系我時請說在上海非利加實業有限公司上看到的,謝謝！
飛納臺式掃描電鏡 專業版
―― 智能、高效、多功能
放大倍數：20×-130,000×
分辨率：優于17nm 電子槍：1500小時CeB6燈絲 抽真空時間：10秒 樣品移動方式：自動馬達樣品臺 樣品定位方式：光學和低倍電子雙重導航 樣品導電性要求：無需噴金，直接觀測絕緣體 拓展功能：顆粒分析系統、3D粗糙度重建、纖維統計測量、孔徑測量系統、高倍拼圖等 環境掃描選件（ESEM）：溫控樣品臺，可直接觀測液體 |
Phenom Pro （飛納臺式掃描電鏡 專業版）是Phenom（飛納）產品中*的型號，在繼承了Phenom（飛納）代（G1）產品操作方便、30秒快速成優質圖像、售后無憂等優點的同時，電鏡分辨率和圖像質量顯著提高。 采用了壽命高達1500小時的新***代CeB6燈絲和分辨率更高，功能更全的光學顯微鏡，提高后的光學顯微鏡有聚焦功能，放大倍數在20-120倍之間，具備明場和暗場兩種模式。 |
滬公網安備31011502016460號
