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掃描電子顯微鏡(SEM)
ZEISS GeminiSEM 450場發射掃描電子顯微鏡
價 格:詢價
產 地:更新時間:2021-01-18 15:03
品 牌:型 號:GeminiSEM 450
狀 態:正常點擊量:1554
400-006-7520
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GeminiSEM 系列產品
高對比度、低電壓成像的場發射掃描電子顯微鏡
為對任意樣品進行高水準的成像和分析而生
蔡司GeminiSEM 系列產品具有出色的探測效率,能夠輕松地實現亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下,更高的表面細節信息靈敏度讓您在對任意樣品進行成像和分析時都具備更佳的靈活性,為您在材料科學研究、生命科學研究、工業實驗室或是顯微成像平臺中獲取各種類型樣品在微觀世界中清晰、真實的圖像,提供靈活、可靠的場發射掃描電子顯微鏡技術和方案。
GeminiSEM 450 具有出色的易用性設計、更快的響應和更高的表面靈敏度,使其能快速、靈活、可靠地對樣品進行表面成像和分析,充當您的得力助手
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更高的速度與靈敏度,更好的成像和分析
GeminiSEM 450更快的響應和更高的表面靈敏度使其能快速、靈活、可靠地對樣品進行表面成像和分析,簡便、快速地進行EDS能譜和EBSD等分析,同時保持出色的空間分辨率,充當您的得力助手。
在EDS能譜和EBSD分析模式下仍保持高分辨率的成像,在低電壓條件下工作時更為優異;
可快速地對樣品進行大范圍及高質量成像;
經優化的電子光學鏡筒,減少了工作過程中進行重新校準的復雜流程,節省成像時間,提高工作效率;
無論是不導電樣品、磁性樣品或是其他類型的樣品,無論是高真空或是可變壓力模式,均可實現快速和高質量的成像和分析.
洞察產品背后的科技
Gemini電子光學系統
Gemini 2類型鏡筒-出色的綜合性能,為您所欲為
技術參數:
基本規格 | 蔡司 GeminiSEM 450 |
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| 熱場發射電子槍,穩定性優于0.2 %/h
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加速電壓
| 0.02 - 30 kV |
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探針電流
| 3 pA - 40 nA |
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(100 nA或300 nA配置可選)
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存儲分辨率
| 達32k × 24k 像素 |
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放大倍率
| 12 C 2,000,000 |
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標配探測器
| 鏡筒內Inlens二次電子探測器
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樣品室內的Everhart Thornley二次電子探測器
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可選配的 項目
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NanoVP可變壓力模式 |
高效VPSE探測器(包含在NanoVP可變壓力選件中)
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局部電荷中和器 鏡筒內能量選擇背散射探測器
環形STEM探測器(aSTEM 4) 角度選擇背散射探測器 EDS能譜儀
EBSD探測器(背散射電子衍射)
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可訂制特殊功能樣品臺 |
環形背散射電子探測器 |
陰極射線熒光探測器
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