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掃描透射電子顯微鏡(STEM)
JEOL掃描透射電子顯微鏡 Plus
價 格:詢價
產 地:更新時間:2021-01-18 15:13
品 牌:型 號:JEM-2100Plus
狀 態:正常點擊量:1760
400-006-7520
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產品詳情
JEM-2100Plus 透射電子顯微鏡
JEM-2100Plus電子顯微鏡,不僅擁有信譽卓著的JEM-2100 的電子光學系統,還增加了*新的控制系統,大幅提高了可操作性。 多功能電子顯微鏡JEM-2100Plus性能優越,操作方便,簡明易懂,在材料、醫學、生物學等多個研究領域提供優異的解決方案。
產品規格:
物鏡極靴*1 | 超高分辨UHR | 高分辨HR | 高傾斜HT | 冷凍傳輸CR | 高襯度HC |
分辨率 |
點分辨率 | 0.194nm | 0.23nm | 0.25nm | 0.27nm | 0.31nm |
線分辨率 | 0.14nm | 0.14nm | 0.14nm | 0.14nm | 0.14nm |
STEM明場像*2 | 1.0nm |
加速電壓 | 80、100、120、160、200kv |
倍率(TEM)*2 |
MAG模式 | x 2,000 – 1,500,000 | x1,500 – 1,200,000 | x1,200 – 1,000,000 | x1,000 – 800,000 |
Low MAG模式 | x 30 – 6,000 | x 30 – 2,000 |
SA MAG模式 | x 8,000 – 800,000 | x 6,000 – 600,000 | x 5,000 – 600,000 | x 5,000 – 400,000 |
倍率(STEM)*2 |
MAG模式 | x 2,000 – 2,000,000 |
Low MAG模式 | x 100 – 15,000 |
· *1 : 訂購時請指定物鏡種類。
*2 : 為選配件。
產品特點:
· JEM-2100Plus電子顯微鏡,不僅擁有信譽卓著的JEM-2100 的電子光學系統,還增加了*新的控制系統,大幅提高了可操作性。 多功能電子顯微鏡JEM-2100Plus性能優越,操作方便,簡明易懂,能在材料、醫學、生物學等多個研究領域提供優異的解決方案。
· 操作性改進
· *新操作軟件“TEM Center” 可在64位版本Windows®上運行,簡明易懂,適合初學者使用。
· 功能高度整合
· 通過整合TEM Center 和高清CCD相機(選配)及掃描透射圖像(BF/DF 像)觀察功能(選配),在TEM Center 圖形用戶界面上操作,更加簡單直觀。
· 豐富的用戶輔助功能
· 擁有豐富的用戶輔助功能(自動聚焦、自動襯度/亮度、自動曝光、自動圖像拼接、漂移校正、樣品臺導航功能等)。