PHL雙折射測量系統WPA200
價 格：詢價
產 地：更新時間：2021-01-21 11:05
品 牌：其他型 號：WPA-200
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產品介紹
PHL雙折射測量系統WPA200
主要特點:
主要應用：
· 光學零件（鏡片、薄膜、導光板）
· 透明成型品（車載透明零件、食用品容器）
· 透明樹脂材料（PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC）
· 透明基板（玻璃、石英、藍寶石、單結晶鉆石）
· 有機材料（球晶、FishEve）
技術參數：
項次 | 項目 | 具體參數 |
1 | 輸出項目 | 相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應力換算（選配）【MPa】 |
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2 | 測量波長 | 520nm、543nm、575nm |
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3 | 雙折射測量范圍 | 0-3500nm |
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4 | 測量***小分辨率 | 0.001nm |
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5 | 測量重復精度 | <1nm（西格瑪） |
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6 | 視野尺寸 | 218x290mm-360×480mm（標準） |
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7 | 選配鏡頭視野 | 無選配 |
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8 | 選配功能 | 實時解析軟件，鏡片解析軟件，數據處理軟件，實現外部控制，CD模式
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滬公網安備31011502016460號
