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應力雙折射測量儀

PA-200高速應力雙折射測量儀

應力雙折射測試儀器簡介：

應力雙折射儀，能夠快速、精確測量雙折射相位差及其空間分布和方向。廣泛應用于玻璃、晶體、聚合物薄膜、鏡片、晶片等質量分析和控制領域。

應力雙折射測試儀器主要產品分四部分：

• n 光子晶體光學元件；

• 雙折射和相位差評價系統；

• 膜厚測試儀；

• 偏振成像相機。

『相位差』『雙折射』『內部應力』測量裝置 WPA/PA系列

• 快速定量測量透明材料和薄膜2維平面內的相位差、雙折射和內部應力應變分布

PA/WPA系統特點：

• 操作簡單/快速測定：獨特的偏振成像傳感器進行簡單的和快速的操作即可測量相位差的分布

• 2D數據的多方面分析功能：二維數據的強大分析功能，能夠直觀解釋被測樣品的特性。

• 相位差測試能力（WPA系列）：通過對三組不同波長的測量數據進行計算，WPA系統可以測量出幾千nm范圍內的相位差。

高速雙折射測量 PA-200，PA-200-L

        低相位差（如玻璃）的全面測試 

        針對相位差差別比較小的樣品，要求測量速度高的應用，專門開發了PA系列的產品，測量速度快是核心。廣泛應用于玻璃、晶體、聚合物薄膜、鏡片、晶片等質量分析和控制領域。

高速雙折射測量產品特點：

     曲線圖功能

    CSV格式輸出

    軸相位差顯示

    縮放鏡頭功能

l 用于低相位差樣品測試的標準系統。

l 適用于檢測玻璃的應力或者透明晶片（如藍寶石、SiC和GaN）的內部缺陷。

PHL高速雙折射測量技術參數：

高速雙折射測量應用領域：

玻璃，顯示組件，注塑塑料件，拉伸纖維，光纖器件，微影手提袋，鏡片毛坯，鏡片，硅片，礦產，激光晶體，液態晶體，雙折射晶體等。