二探針測試儀
價 格：詢價
產(chǎn) 地：更新時間：2021-05-11 14:33
品 牌：其他型 號：JS705-S2
狀 態(tài)：正常點擊量：2704
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產(chǎn)品參數(shù)
二探針測試儀技 術 指 標 ：
測量范圍 | 電阻率：10-5～105 Ω.cm； |
恒流源 | 電流量程分為1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六檔，各檔電流連續(xù)可調 |
數(shù)字電壓表 | 量程及表示形式：000.00～199.99mV；
分辨力：10μV；
輸入阻抗：>1000MΩ；
精度：±0.1% ；
顯示：四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示；極性、超量程自動顯示； |
二探針探頭基本指標 | 間距：3mm（可選其它間距）；
針間絕緣電阻：≥1000MΩ；
機械游移率：≤0.3％；
探針：碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm；
探針壓力：5～16 牛頓(總力)； |
二探針探頭應用參數(shù) | (見探頭附帶的合格證) |
模擬電阻測量相對誤差
( 按JJG508-87進行) | 0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1字 |
測試架 | 配置T-2A測試架，兩端電極Ф8mm～20mm（可選其他尺寸訂做） |
計算機通訊接口 | 并口 |
標準使用環(huán)境 | 溫度：23±2℃；
相對濕度：≤65%；
無高頻干擾；
無強光直射； |
產(chǎn)品介紹
二探針測試儀概述：
二探針測試儀是運用二探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法******標準并參考美*** A.S.T.M 標準而設計的，專用于測試半導體材料縱向電阻率的專用儀器。
儀器由主機、測試臺、二探針探頭、計算機等部分組成，測量數(shù)據(jù)既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結果。
儀器采用了電子技術進行設計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數(shù)快、精度高、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結構緊湊、易操作等特點。
本儀器適用于半導體材料廠、科研單位、高等院校對半導體材料的電阻性能測試。
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
